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　　將試樣放在原級X射線的通道上，試樣中各元素的原子被原級X射線照射后，分別發出各自特征的熒光X射線，利用分析晶體將各元素的特征熒光X射線分辨出來，以探測系統記錄被測元素的特征熒光X射線強度。在測試條件下，X射線強度與該元素的含量呈一定的線性關系，據此線性關系進行計算，就可以計算出被測元素的含量。

　　X射線熒光光譜分析儀是一種相對測量儀器，用于測量已準確了解化學分析結果的標準。

　　對計算機獲得的特征X射線強度數據進行一系列數學處理，計算工作曲線。建立正確的應用程序（標準曲線）是準確分析熒光計的基礎。

　　2.1選擇一個代表性的標準樣品。每組曲線應有10個樣本，盡可能在生產控制中使用樣本，化學成分應有一定的梯度。每個要素的內容應涵蓋實際生產可實現的范圍。如果樣品梯度不能拉開，則必須在實際采礦區域內采樣，以使樣品的物理性質相同。

　　2.2準確分析標準樣品。為了很大限度地消除人為錯誤，標準樣本通常需要3名具有3年以上分析經驗的分析師進行平行化學分析，然后取平均值。常用的化學分析是幾乎所有快速光譜技術校準的基礎?；瘜W分析值必須準確。否則，一切都無法討論。確保分析結果的準確性并為熒光分析的校準提供準確的基礎是有必要的。

　　2.3建立標準曲線后，為使工作曲線正常投入使用，應校正曲線。使用后，為確保儀器分析的準確性，應定期將具有已知化學成分的樣品（標準樣品）與熒光分析進行比較。更正。如果線性回歸不是很好，那么就有必要通過經驗系數或標準的增刪來做些微的調整。如果工作曲線過大，則必須重新建立新的工作曲線。為了確保儀器分析的準確性，應該每天采集一次標準樣品，并與一次的化學分析進行比較。

　　3.1礦物效應主要是由于材料的化學成分相同，由于不同的結晶形式導致不同的X射線熒光強度，這導致錯誤。對于水泥公司來說，由于原材料中的原材料來源不同，并且具有不同的礦物結構，所以只有當樣品磨至小于400目時才能減少原材料中的原材料。然而，有效的措施是融合方法。

　　3.2顆粒效應是指樣品中的顆粒直徑，顆粒分布的顆粒形狀以及顆粒內部不均勻所引起的物理效應。在水泥原料中，鈣和硅的測定有很大的影響。由于粒子效應，包含在X射線照射的有效體積中的測試元素的粒子數量改變以影響X射線熒光的強度，導致分析結果中的誤差。

　　3.3元素間效應是指樣品中其他元素的待測元素的X射線熒光強度的相互影響，也稱為吸收增長效應。當矩陣效應發生較大變化時，可以用樣條函數和數學公式來補償和修正矩陣效應。

　　（1）研磨過程中樣品的粒度和粒度分布，未設定研磨時間，沒有達到所需的研磨粒度或相應的粒度分布，并且元件中的X射線強度也是受影響很大。影響。實驗表明，當研磨時間短于測試設定時間時，測量結果會波動。同時，在制作標準樣品和研磨粉末的標準曲線之前，先進行研磨測試以確定研磨時間。

　　（2）研磨時加入適量的粘結劑或助磨劑，粘結劑或助磨劑應與工作曲線相同，且不含待分析元素，否則會對測量結果產生較大影響。。每種材料的研磨盤分離或研磨并清潔。例如，如果之前的樣品留在研磨盤中或被其他物質污染，結果可能會相對較大。

　?。?）樣品的壓縮：將所制備的粉末小心地放入模具中，每次放置的樣品量基本與工作曲線的標準相同，并用進料器平整以防止樣本布被使用。發生不均勻和不均勻的樣本密度。粉末樣品包裝在鋁杯，塑料環或鋼圈中。X射線熒光強度與壓制樣品的壓力和樣品的粒度密切相關。

　?。?）壓片時，在不設定時間和壓力的情況下，將壓力30t保持時間設定為20s以符合要求。

　　如果壓力不好或者壓片過程中片劑不干凈或者頂部有先前的樣品，分析結果將受到影響。

　　（5）樣品的分析表面應保護好樣品制備。禁止用手指觸摸臉部，用嘴吹，用濕毛巾等擦拭分析表面。應該用注射器或吸塵器進行療效。在熒光分析中，粉狀片劑樣品不應長時間置于空氣中，導致分析表面和空氣傳播材料發生物理和化學變化。

　　（6）樣品放入樣品杯時的位置不正確。將樣品放下或樣品表面傾斜到樣品盒的表面。這將影響管與分析表面之間的距離，從而給出分析結果誤差。

　　以上內容由贏洲科技儀景通X射線熒光光譜分析儀技術人員整理，如果想要了解更多儀器問題，可以即時致電我們18202125770。