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X熒光光譜儀
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- 儀景通X熒光光譜儀幫我們檢測珠寶玉石真假
- 2020-04-24 08:33:44 贏洲科技
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在現(xiàn)今珠寶玉石行業(yè)中,檢測珠寶玉石的貴金屬含量的主要手段是儀景通X熒光光譜儀.這種方法不僅檢測效率高,而且還不會損傷珠寶玉石,故而被珠寶玉石行業(yè)廣泛接受.X 射線是一種電磁輻射,波長約在0.001~50nm 之間.當使用X 射線照射被測物時,被測物能夠被激發(fā)出各種不同波長的熒光X 射線,此時需將波長不同的X 射線分開.通過使用波長、能量探測器接收珠寶玉石發(fā)出的X 熒光,便可判斷出其組成元素,再通過能量計數(shù),便可得知各類元素的含量.根據(jù)此原理可將X 熒光光譜儀分為能量色散型X 熒光光譜儀（ED-XRF）和波長色散型X 熒光光譜儀（WD-XRF）.贏洲科技技術(shù)人員就針對X 熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應(yīng)用進行了簡要的分析.
1.儀景通X 熒光光譜儀的優(yōu)點X 熒光光譜儀的優(yōu)點主要有以下幾個方面：①分析速度極快.一般情況下,只需要短短的兩至五分鐘就可完成對一件珠寶玉石中各種元素種類和含量的檢測；②X 熒光光譜不受被測物體形狀、化學結(jié)合狀態(tài)等方面的影響,適用于任何珠寶玉石的檢測工作；③X 熒光光譜儀在分析珠寶玉石元素以及含量的過程中不會對其造成破壞,這是其他檢測方式所不具備的優(yōu)勢；④X 熒光光譜儀的分析精密度極高；⑤X 射線熒光分析屬于物理分析方法的范疇,只要被測物的化學性質(zhì)屬于同一族,都可進行分析.X 熒光光譜儀的眾多優(yōu)勢,尤其是在分析的過程中不會破壞珠寶玉石的完整性,這完全符合珠寶玉石行業(yè)的產(chǎn)品檢測需要.2.X 熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應(yīng)用主要通過利用X 熒光光譜儀對菱錳礦、磷灰石的組成元素進行分析,以此來證明X 熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的可行性.
2..1 利用X 熒光光譜儀對菱錳礦進行檢測菱錳礦是典型的自色礦物,其主要化學成分是Mn-CO3,常含有Fe、Ca 等元素.因為含有致色離子Mn2+,所以呈紅色.不過,菱錳礦的顏色會隨著Ca 元素含量的增加而逐漸變淺,當Fe 元素完全代替Mn 以后,菱錳礦就會轉(zhuǎn)換為褐色或是論文范文.菱錳礦的硬度不高,在佩戴的過程常常會被磨損,這就導致很多常規(guī)檢測手段無法再準確的檢測出元素含量.所檢測的菱錳礦為大紅色,且飽和度較高.從其顏色中不難看出,該菱錳礦的Mn 元素含量極高,Ca 元素的含量比較低,Fe 元素幾乎沒有.然后用X 熒光光譜儀對其進行檢測,得出如圖1 所示的X 熒光光譜.由此可見,X 熒光光譜儀適合用于菱錳礦的檢測.以上內(nèi)容由贏洲科技儀景通X熒光光譜儀整理，如對這方面還有疑問，可以即時致電我們18202125770。 - 上一篇：X熒光光譜儀的市場能有多大？ 下一篇：儀景通X射線衍射儀（XRD）在鈦白粉中的應(yīng)用
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